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Alwan Color Expertise

Upcoming Events

KEE Consultants präsentiert eine europaïsche Roadshow mit der Seminarreihe "Standardisierung - Ihre Zukunft!" gesponsort von Alwan, Enfocus und X-Rite.

Diese Seminare sind für alle zugänglich und kostenfrei. Sie werden Treffpunkt für viele Branchenspezialisten und Teilnehmer aus Deutschland und benachbarten Ländern sein.

Das Ziel der Konferenz ist es, allen Teilnehmern ein klares Bild davon zu vermitteln, wie sie die Produktion ihrer Unternehmen standardisieren können und welche Lösungen und Methoden bereitstehen, um dieses Ziel zu erreichen.

Die Seminare finden statt:
am 2. Juli bei vdm Nord
Verband Druck und Medien Nord e.V.
Gaußstraße 190
22765 Hamburg
WHITE PAPERS
Evaluating Dynamic DeviceLink Profile Performance
Jiayi Zhou, R.I.T TestTargets 8.0, November 2008
Complete RIT issue, PDF Format, 8.4 MB
Use of Static and Dynamic Device Link Profiles, incidence on colorimetric accuracy and ink savings. Amélie Trichon, Lionel Chagas, Nadia Hassissi, EFPG-Pagora, Grenoble, France, September 2008. IARIGAII 2008 presentation, PDF format, 400KB
Use of DeviceLink Profiles in the Graphic Industry
Amélie Trichon, EFPG-Pagora, Grenoble, France, July 2007
Complete original report, PDF format, 2.2 MB
Device Link Profiling
Dimitris Ploumidis, R.I.T TestTargets 5.0, December 2005
Complete RIT issue, PDF Format, 9.9 MB
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ALWAN DYNAMIC DEVICELINKS TECHNOLOGY RECEIVES GATF INTERTECH AWARD 2008

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